若何对电子万能试验机进行靠得住试验

FL电子万能试验机

试验——问题记录——再试验该方法便是把初步研制的产品，通过试验创造问题时，不是立即进行改进，而是把问题记录下来，待在一个试验阶段结束以及下一个阶段开始之前，根据各种失落效模式的失落效机理，集中地进行改进，然后再进行试验。
采取这种试验法，产品可靠性将有较大的跃进。
这种试验法，比较适用于一批试验机中，涌现几个问题，个中一种问题是占紧张地位而别的问题是次要的情形。
试验——改进——再试验该方法便是把初步研制的产品，通过试验，暴露产品的薄弱环节，剖析产品的失落效模式和失落效机理，找出问题就立即改进，然后再试验证明所办理的问题，使产品的可靠性得到增长。
这种方法在电子产品的研制阶段，通过系统试验，暴露出产品薄弱环节之后，根据详细情形，立即进行必要的改进是能够使产品的可靠性有大幅度的增长，这种方法比较适用于试验中只涌现一种比较普遍和严重问题的情形，针对性较强。
含延缓改进的试验——改进——再试验该方法是将方法一和方法二结合起来，通过试验创造了产品的问题，有些改进在试验中创造了产品的问题，有些改进在试验中立即动手进行，有些延缓到试验结束后再作改进。
在试验中，对能及时改进的问题，立即采纳方法改进产品，提高可靠性，在试验阶段结束后，把延缓的问题至下次试验开始提高行改进，然后再进行试验，使产品的可靠性得到较大的增长。
这种方法比较适宜于试验中涌现几种问题，并且一些问题能短期随意马虎改进的，另一些问题却须要相称一段韶光才能改进的综合情形。